合肥工業(yè)大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院導(dǎo)師：王偉 正文

　　姓名：王偉
　　性別：男
　　出生年月：
　　職稱：副教授
　　學(xué)院：計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院
　　研究方向：
　　嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用
　　微系統(tǒng)與智能機(jī)器
　　VLSI低功耗設(shè)計(jì)與測(cè)試
　　計(jì)算機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)　　

　　簡(jiǎn)歷
　　學(xué)歷和研究工作簡(jiǎn)歷：
　　2002年9月-2007年3月：合肥工業(yè)大學(xué) 計(jì)算機(jī)應(yīng)用技術(shù)專業(yè) 碩博連讀
　　2004年6月-2006年9月：中國(guó)科學(xué)院 計(jì)算技術(shù)研究所 博士階段
　　2007年3月-2009年6月：中國(guó)科學(xué)院 計(jì)算技術(shù)研究所 博士后
　　2008年6月：合肥工業(yè)大學(xué) 計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)專業(yè) 獲碩士生導(dǎo)師資格

　　學(xué)術(shù)任職：
　　中國(guó)計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì) 高級(jí)會(huì)員
　　第6屆全國(guó)測(cè)試會(huì)議(CTC2010) 程序主席
　　WRTLT’09 出版主席
　　WRTLT’10程序委員會(huì)委員
　　王偉，男，2001年以優(yōu)異成績(jī)畢業(yè)于合肥工業(yè)大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院計(jì)算機(jī)應(yīng)用專業(yè)，獲工學(xué)學(xué)士學(xué)位。2002年在合肥工業(yè)大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院免試碩博連讀，并于2007年3月博士畢業(yè)，并取得計(jì)算機(jī)應(yīng)用技術(shù)工學(xué)博士學(xué)位。于2007年月至2009年6月，進(jìn)入中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所博士后流動(dòng)站工作，期間獲中國(guó)博士后科學(xué)基金“一等”資助項(xiàng)目。目前已成為計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院的青年學(xué)術(shù)骨干。主要研究方向?yàn)镾oC設(shè)計(jì)與測(cè)試、低功耗技術(shù)、VLSI容錯(cuò)與可靠性。近年來，作為課題負(fù)責(zé)人承擔(dān)中國(guó)博士后科學(xué)基金“一等”資助課題1項(xiàng)，教育部博士點(diǎn)新教師基金1項(xiàng)，承擔(dān)和參與973、國(guó)家自然科學(xué)基金重點(diǎn)等多項(xiàng)科研項(xiàng)目，發(fā)表論文十余篇。
　　科研經(jīng)歷豐富，具有較高的科研責(zé)任感與使命感，能夠認(rèn)真的完成科研任務(wù)。協(xié)助指導(dǎo)博士生2名,協(xié)助指導(dǎo)碩士生2名，目前正在指導(dǎo)碩士生3名。
　　近年來，較系統(tǒng)的研究了嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)與容錯(cuò)、VLSI低功耗技術(shù)、VLSI測(cè)試技術(shù)、VLSI容錯(cuò)技術(shù)、熱量技術(shù)、NoC（Network-on-Chip, 片上網(wǎng)絡(luò)）測(cè)試與低功耗技術(shù)、3D芯片結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)方法等，在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)、容錯(cuò)、低功耗設(shè)計(jì)方面，具有扎實(shí)的基礎(chǔ)理論水平與實(shí)際應(yīng)用能力。

　　研究方向
　　嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用
　　微系統(tǒng)與智能機(jī)器
　　VLSI低功耗設(shè)計(jì)與測(cè)試
　　計(jì)算機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)　　

　　教學(xué)工作
　　研究生課程：高級(jí)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)機(jī)構(gòu)
　　本科生課程：計(jì)算機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)； 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)自動(dòng)化　　

　　獲獎(jiǎng)情況
　　2010年 “博創(chuàng)杯”全國(guó)大學(xué)生嵌入式設(shè)計(jì)大賽 一等獎(jiǎng) 指導(dǎo)教師
　　2009年 安徽省科技進(jìn)步三等獎(jiǎng) 團(tuán)隊(duì)成員

　　論文著作
　　近年來的主要論文：

　　1．楊年宏，王偉，岳學(xué)民，陳田．一種熱量敏感的3D SoC并行測(cè)試方法研究．第6屆中國(guó)測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議, 2010:307-309.
　　2．Wei Wang（王偉）, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, Fang Fang（方芳）．Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test．Chinese Journal of Electronics, 2009, 18(1): 54-58．（SCI, EI）
　　3．方芳, 王偉, 王杰, 陳田, 楊年宏．低功耗測(cè)試研究進(jìn)展．合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版), 2009, 32(6): 769-773.
　　4．方芳, 王偉, 韓銀和, 李曉維．基于片上網(wǎng)絡(luò)的多播測(cè)試中“熱點(diǎn)”的優(yōu)化算法．哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)(增)．2009:166-171.
　　5．Fang Fang（方芳）, Wei Wang（王偉）, Yinhe Han, Xiaowei Li．A Thermal-aware Parallel Multicast Testing Method Based on Many-core Chips．Digest of Papers, IEEE 10th Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT’09), 2009:134-137.
　　6．Wang Wei（王偉）, Hu Yu, Han Yinhe, Li Xiaowei, Zhang Yousheng．Leakage Current Optimization Techniques During Test Based on Don’t Care Bits Assignment．Jorunal of Computer Science and Technology, 2007, 22(5):673-680．（SCI, EI）
　　7．陳田，梁華國(guó)，王偉，易茂祥，黃正峰．基于優(yōu)化編碼的LFSR重播種測(cè)試壓縮方案．第6屆中國(guó)測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議, 2010:18-25．（已被推薦至《計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展》，并已錄用）
　　8．顧婉玉，梁華國(guó)，徐三字，陳田，王偉．一種基于響應(yīng)中無關(guān)位填充的測(cè)試壓縮方法．第6屆中國(guó)測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議, 2010:83-86.
　　9．陳田, 梁華國(guó), 易茂祥, 王偉, 黃正峰, 張敏生．基于隨機(jī)訪問掃描的低功耗確定性測(cè)試方案．中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)學(xué)報(bào)，已錄用，2010.
　　10．王偉, 韓銀和, 胡瑜, 李曉維, 張佑生．一種有效的低功耗掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)-PowerCut．計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展, 2007, 44(3): 473-478．（EI）
　　11．王偉, 韓銀和, 李曉維, 張佑生．基于測(cè)試向量中不確定位的漏電流優(yōu)化技術(shù)．電子學(xué)報(bào), 2006, 34(2):282-286．（EI）
　　12．王偉, 韓銀和, 胡瑜, 李曉維, 張佑生．SoC測(cè)試中低成本、低功耗的芯核包裝方法．計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào), 2006, 18(9):1397-1402．（EI）
　　13．Wei Wang（王偉）, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, You-Sheng Zhang, Yu Hu．PowerCut-A Novel Low-power Scan Testing．Proc．of IEEE 7th Workshop on RTL and High-Level Testing（WRTLT’06）, 2006:49-54.
　　14．王偉, 董福弟，陳田，方芳．一種3D芯片中TSV塊容錯(cuò)設(shè)計(jì)方法．“計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào)”審稿中，2011年2月投出.
　　15．王偉, 方芳，陳田,王杰．TBPT: 一種使用測(cè)試樹枝的基于多播NoC的SoC并行測(cè)試方法．“電子學(xué)報(bào)”審稿中, 2010年8月投出.

　　2009年獲發(fā)明專利授權(quán)一項(xiàng)：

　　發(fā)明名稱：一種塊標(biāo)記的系統(tǒng)芯片測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法
　　專利號(hào)：ZL200610156030.7
 

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